泰勒粗糙度仪DUO

内容简介：

泰勒粗糙度仪DUO

    SURTRONIC DUO新型粗糙度仪，可测Ra，Rz两种参数。DUO具有红外接口可在距离被测物1米处进行测量。

技术参数；

测量范围：200µm

误差：0.8mm±15%

分辨率:Ra：0.1µm-40µm

Rz::0.1µm-199µm

滤波器:ISO 2CR

尺寸:125×80×38mm

重量:200g